Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
Таннер Б.К.
В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения.\nДля научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.
Година:
2002
Издателство:
НАУКА
Език:
russian
Страници:
258
ISBN 10:
5020249637
ISBN 13:
9785020249639
Файл:
DJVU, 7.43 MB
IPFS:
,
russian, 2002